銷售咨詢熱線：
18911365393
薄膜生長速率測試儀，采用無損的激光技術(shù)實(shí)時原位檢測薄膜沉積速率、薄膜厚度以及光學(xué)常量（n&k），可廣泛的應(yīng)用于金屬有機(jī)化學(xué)氣象沉積MOCVD、分子束外延MBE、濺射系統(tǒng)Sputtering和蒸發(fā)系統(tǒng)等薄膜沉積過程的實(shí)時原位監(jiān)控。
更新時間：2025-12-19
廠商性質(zhì)：代理商
